"Condition Monitoring verändert die Welt der Instandhaltung"
Im A&D-Interview: Peter-Michael Synek, Forum Mechatronik im VDMA
Peter-Michael Synek
A&D: Condition Monitoring (CM) ist stark im Kommen, u. a. gab es eine Sonderschau auf der Hannover Messe 2005. Welche technologischen und wirtschaftlichen Faktoren treiben dieses Thema an? Vollbeitrag als PDF
Diese Seite wurde am 22.09.2006, 14:09 Uhr aktualisiert