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<H1>www.duv24.net : J. Constantopoulos, W. Nadler: "Testmodi bei DC/DC-Schaltreglern"</H1>
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<TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich >
Redaktion
> <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD>
<TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>02.04.2004</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Texas Instruments Deutschland GmbH:</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>J. Constantopoulos, W. Nadler: "Testmodi bei DC/DC-Schaltreglern"</TD>
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<TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Neue Testmethoden analoger Bauelemente</TD>
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<TD CLASS=detailBildunterschrift>Serielles Interface (I 2 C)</TD>
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Die zunehmende Komplexität von Halbleiterbauelementen (IS Integrierte Schaltung) und die steigende Nachfrage nach noch besserer Produktqualität, erfordern neue Techniken um die Bauteile schnellstmöglich und effizient zu testen. Dabei gehen die Bemühungen der Testingenieure in mehrere Richtungen um die Testbarkeit der komplexen Bauelemente zu gewährleisten. Das Ziel dabei ist die Entwicklungszeit neuer Bauelemente zu verkürzen, die Ausfallrate zu reduzieren und dies bei möglichst niedrigen Kosten. Dies erfordert die Entwicklung neuer, stabiler Testmethoden (DFT - Design for Test). Dieser Artikel beschreibt den Test analoger Bauelemente, mit Schwerpunkt auf Low Power DC/DC Schaltreglern. <a href="http://www.duv24.net/media/design-verification/dvapr2004/dv044401.pdf" target="_blank">Vollbeitrag als PDF</a></TD>
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<P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:13 Uhr aktualisiert</I></P>
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