Vogl, Günter : "EMV-Messungen mit ,Nachbrenner'"

<BODY> <H1>www.duv24.net : Vogl, Günter : "EMV-Messungen mit ,Nachbrenner'"</H1> <P> <BR> [<A href="/">www.duv24.net</A>] [<A href="../index.html">back</A>] </P> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE WIDTH=100% BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=TOP CLASS=detailBereichRedaktion>Bereich > Redaktion > <B><FONT color="#CC3300">Fachbeiträge</FONT></B></TD> <TD ALIGN=right VALIGN=bottom CLASS=detailDatum>29.08.2002</TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailFirma ID=topSpace>Siemens VDO:</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailTitel>Vogl, Günter : "EMV-Messungen mit ,Nachbrenner'"</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailSubtitel>Neues Messverfahren verkürzt Abstrahlungsmessungen um Faktor zehn</TD> <TD VALIGN=top> </TD> <TD VALIGN=top> </TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top> <TABLE BORDER=0 CELLSPACING=0 CELLPADDING=0> <TR> <TD VALIGN=top CLASS=detailContent><font color=#0000FF>erschienen im <font color=#FF7F00>TEST KOMPENDIUM 2003 </font>(ISBN 3-934698-08-5) S. 74<br><BR><ul>in der <a href="#toolbox" style="color:red;"><b>'toolbox'</b></a> unter dieser Meldung können Sie, als registrierter USER, zu dem Fachbeitrag mit dem<BR><li>'details-Button' - eine Vollversion mit allen Bildern als pdf-Datei downloaden</li><BR><li>'Email-Button' - per E-Mail direkten Kontakt zum Ansprechpartner aufnehmen</li><BR><li>'discuss it-Button' - den Beitrag mit Anderen in einem Forum diskutieren</li></ul><br>Sollten Sie noch kein registrierter User sein, können Sie das sofort und kostenfrei in der linken Spalte nachholen!<br><br></font><BR><b>Einleitung</b><BR><BR>Die konventionelle Abstrahlungsmessung mit einem Messempfänger war bisher durch lange Messzeiten geprägt, die mehrer Stunden oder sogar Tage betragen konnte. Ein Faktor, der bei immer kürzeren Entwicklungszeiten zunehmend untragbar wird. Eine auf Fast-Fourier-Transformation basierende Messmethode, die auf handelsüblichen Komponenten durchgeführt werden kann, erlaubt jetzt eine wesentliche Reduzierung der Messzeiten. <a href="http://www.publish-industry.net/media/design-verification/TESTK_2003/TK3B0301.pdf" target="_blank"> weiter... </a><BR><BR><BR><b>Zusammenfassung</b><BR><BR>Das beschriebene Verfahren hat darüber hinaus auch noch den Vorteil, dass es in Hinblick auf die benötigte Hardware aus handelsüblichen Komponenten aufgebaut werden kann. Dass die Methode absolut korrekt ist, hat auch die Vorstellung bei führenden EMV-Experten gezeigt: Die neue Messmethode wurde von einem wichtigen Kunden bereits ausdrücklich anerkannt. Die Anerkennung durch weitere Automobilhersteller steht kurz bevor. Die Erfindung ist unter der Nummer 2001 P 02977 DE (01 E 20209) offengelegt, wird aber derzeit außer durch SiemensVDO in Regensburg nicht eingesetzt. Eine Anwendung ist natürlich durch den beschriebenen Kostenvorteil für jedes EMV-Labor reizvoll. Die Zeiteinsparung ist aber durch die immer kürzer werdenden Entwicklungszeiten manchmal sogar noch wertvoller und in Euro und Cent kaum auszudrücken. <br><BR><a name="toolbox"></a><a href="#" onClick="window.open('http://www.publish-industry.net/cgi-bin/WebObjects/PI.woa/wa?abo=YES','ABO','scrollbars=yes,width=500,height=500')">Ja, ich möchte das TEST KOMPENDIUM 2004 kostenfrei Probelesen</a></TD> </TR> <TR> <TD CLASS=detailQuelle> </TD> </TR> </TABLE> </TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=1 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top></TD> </TR> <TR> <TD VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=393 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=28 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=28 HEIGHT=1 ALT=""></TD> <TD WIDTH=174 VALIGN=top><IMG NAME="" SRC=/pi/spacer.gif WIDTH=174 HEIGHT=1 ALT=""></TD> </TR> </TABLE> <P><I>Diese Seite wurde am 25.09.2004, 13:12 Uhr aktualisiert</I></P> </BODY>